SSD > IODATA > SSDN-ST64B
質問です。
OCZ VertexではWin7環境下でも、wiper(TRIMコマンド一斉掃射のツール)を時々、実行してやらないと、削除ファイルに対するTRIMコマンドが完全に効いていないようでした。そのため、しばらく使っていると速度低下が起こっていたことを確認しています。
Intelでもやはり、同等のツール(Toolbox?)があるようですが、IO-DATAにはあるのでしょうか?
書込番号:10904719
1点
自己レスで恐縮ですが、確認したので整理して終えます。
・このSTBシリーズには添付ソフトは一切付いていないとのこと。
従って、TRIMによるSSDへの強制掃射はできず、いずれ、アクセス速度が
低下しても、回復手段を持たないことになり、これは要注意です。
書込番号:10905911
1点
Trim使わなくてもシーケンシャルな書き込みで初期とほぼ同等の特性まで
回復しそうなことは確認しました。
WindowsVista(32bit) SP2, IMSM8.9, ICH9R AHCIモード
Q9550,GA-G33-DS3R(G33+ICH9R),GeForce9600GT,Mtron PRO7000 32GB
※ランダムリード・ランダムライト測定にはHDTuneProを使用
※Iometerの測定対象はパーティション全領域
★非劣化状態テスト
SecureErase→ランダムリード→ランダムライト(A)
念のため2回実行してみたが問題ない
A
http://feiticeira.jp/jisaku/img/1115.png
もう一度A
http://feiticeira.jp/jisaku/img/1118.png
★劣化状態テスト
SecureErase→全領域にパーティション作成
→IometerでRW4KBを5分*6(劣化させる&定常状態のRW性能を確認)(B1〜B6)
→パーティション削除
→ランダムリード→ランダムライト→リード→ライト *2 (C1,C2)
B1〜B6のまとめ
http://feiticeira.jp/jisaku/img/1119.png
2回目のB2以降、50 IOPSで安定
C1
ttp://feiticeira.jp/jisaku/img/1120.png
確かに劣化状態になっていることがわかる
C2
C1に続けてもう一回HDTune。回復してきている
http://feiticeira.jp/jisaku/img/1121.png
★シーケンシャルライトによる劣化状態の改善テスト
SecureErase→全領域にパーティション作成
→IometerでRW4KBを5分*6(D1〜D6)
→Iometerテストファイル削除
→Iomterで4K; 100%Read; 0%randomリードテスト(D7)
→パーティション削除
→ランダムリード→ランダムライト→リード→ライト *2 (E1,E2)
D1〜D6およびD7のまとめ
http://feiticeira.jp/jisaku/img/1122.png
D1〜D6はB1〜B6とほぼ同じ
E1
http://feiticeira.jp/jisaku/img/1123.png
ランダムの値はAとほぼ同じ。シーケンシャルの速度も十分
E2
http://feiticeira.jp/jisaku/img/1124.png
シーケンシャルの山谷がさらに落ち着く
書込番号:10919821
2点
東芝のSSDはTrim対応ということなので、Windows7でTrimが発行される条件と
いわれているクイックフォーマットを追加した同様のテストをしてみましたが、
上記のVistaでの結果や、あるいはTrimが発行されなくなるIntelドライバ使用の
場合と比較して、ほとんど違わない結果でした。Trimの発行条件の勘違いでなけ
れば、Trimしてもしなくても差はなさそうです。
同じテストを(Windows7ですが)Intel X25-M G1 80Gで行った結果を下に示します。
ランダムライトのテスト後、Iometerのテストファイルを削除すると再びテスト
ファイルを作成するので、それを全領域のシーケンシャル書き込みとしています。
シーケンシャル書き込みで劣化から回復するものの、書き込みのベンチマークに
発生する谷は完全には消えません。ランダムの値が一桁違いますが、東芝のほど
きっちりと回復はしないようです。G2でTrimすると、この谷が消えるのかもしれ
ませんが、G2を購入していないのでテストはしていません。
Windows7(32bit), IMSM8.9, ICH9R AHCIモード
Q9550,GA-G33-DS3R(G33+ICH9R),GeForce9600GT,Mtron PRO7000 32GB
※ランダムリード・ランダムライト測定にはHDTuneProを使用
※Iometerの測定対象はパーティション全領域
★非劣化状態テスト
SecureErase→ランダムリード→ランダムライト(A)
A
http://feiticeira.jp/jisaku/img/1151.png
★劣化状態テスト
SecureErase→全領域にパーティション作成
→IometerでRW4KBを5分*6(劣化させる&定常状態のRW性能を確認)(B1〜B6)
→パーティション削除
→ランダムリード→ランダムライト→リード→ライト *2 (C1,C2)
Bまとめ
http://feiticeira.jp/jisaku/img/1303.png
C1
http://feiticeira.jp/jisaku/img/1148.png
C2
http://feiticeira.jp/jisaku/img/1149.png
★シーケンシャルライトによる劣化状態の改善テスト
SecureErase→全領域にパーティション作成
→IometerでRW4KBを5分*6(D1〜D6)
→Iometerテストファイル削除
→Iomterで4K; 100%Read; 0%randomリードテスト(D7)
→パーティション削除
→ランダムリード→ランダムライト→リード→ライト (E)
Dまとめ
http://feiticeira.jp/jisaku/img/1304.png
E
http://feiticeira.jp/jisaku/img/1150.png
書込番号:10920396
3点
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